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全自动清洁度颗粒计数测试系统XA

全自动清洁度颗粒计数测试系统 2010-6-8 14:26:03 咨询电话:010-51650488

TCI- XA全自动清洁度颗粒计数测试系统

 XA 全自动型清洁度检测系统对清洗过滤后得到的滤有残渣的滤纸,通过显微镜法观察和测定残渣颗粒的大小,系统能否全自动的扫描滤纸表面的所有残渣颗粒,计算其大小,并且根据设定的检测标准分类统计,并且评定清洁度指标和级别。一般适用于清洁度要求较高,或者测定频繁的场合。

指标:

 

放大倍率:7X80X

颗粒范围:3微米—5000微米

滤纸:25/47/50

特点:

l        全自动扫描滤纸,无重复,无遗漏,测定滤纸表面的所有颗粒。

l        能同时将金属颗粒的反光区和阴影区合并测量。

l        可以设定多种清洁度评判指标。

l        特定的测试模版,整合了被测零件、清洗过程、扫描范围、评判标准,输出报告等多种检测因素,操作时选择相应模版,其它自行一一对应。

l        进口光绪器件,自动扫描台最小步距0.5微米,重复进度2微米。

l        测试过程可重现追踪,所有数据可以自行对应相应颗粒。

l        带拼接功能,将跨视场的大颗粒拼接后测量。

l        任意排版的图文混编的报告输出。

l        镀膜基准件,随时测定系统状态。

 

标准配置:

封闭测试箱

打印机

测试主机

基准件

0.05mm 物镜测微尺

TCI-X 清洁度测试分析软件

 

选配:

烘箱

工作架台

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